產品簡介:
FN-2000 X熒光光譜儀采用真空樣品腔,多準直器自動切換;于銅、鐵、鋅等合金材料元素分析,土壤、環境中金屬元素分析;樣品形態可為固體,液體,粉沫??赏瑫r將進行RoHS、金屬成分、金屬鍍層厚度分析。
應用領域:
- 冶煉
- 礦山
- 考古
- 機械加工
- 電子電器
- 土壤分析
儀器特點:
軟件支持無標樣分析,可任意進行定量、定性分析,使用靈活
全元素分析、RoHS和金屬鍍層于一體的測試軟件
同時可以顯示25種元素分析結果
采用*的多種光譜擬合分析處理技術
技術指標:
多準直器自動切換
元素分析范圍:從鈉(Na)-鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm到百分含量
測量時間:60-300s
SDD探測器,能量分辨率:125±5電子伏特
X射線管:50KV\1mA
溫度適應單位:15℃-30℃
多變量非線性去卷積曲線擬合
高斯平滑濾波校正
高性能FP\MLSQ分析
樣品室尺寸:190*190*54mm(L*W*H)
儀器尺寸:590*400*350mm(L*W*H)
分析報告結果:
1、直接打印分析報告
2、報告可轉換為PDF、EXCEL和HTML格式