布魯克Contour Elite™三維光學顯微鏡在已經業界廣泛使用的技術平臺上,進一步增強Vision64®軟件的用戶易用性,創新性加入全新的成像軟硬件,拓展高保真成像能力。在要求*的研發、質量控制領域,Contour Elite™可為用戶提供高速、準確和重復性的測量結果。同時,它為用戶提供在通常共聚焦顯微鏡下能得到的成像與顯示效果,如彩色影像等。
建立在Wyko®專有白光干涉儀基礎上,歷經三十多年軟硬件的積累與創新,布魯克Contour Elite系統提供了直觀可視化的操作界面,豐富的用戶自定義方式,自動化程序控制功能,以及zui快速、廣泛適用的表面三維形貌的高保真成像與準確測量,來保證各種領域研發、生產應用的測試需求。
Contour Elite K
高穩定性,具備一定防震性能設計的桌面式型號
Contour Elite I
全自動,有集成防震墊設計的桌面式型號
Contour Elite X
全自動,集成落地式防震臺的型號