鍍層測厚光譜儀
U-7200 鍍層厚度檢測儀 產品型號
| 1、產品型號 |
| 型號: U-7200 光譜分析儀 配置探測器X光管高壓電源U-7200AMPTEK Si-PIN X-123(美國進口)科頤維Spellman(美國進口) |
二、儀器簡介
| 2.1 儀器概述 | ||
| U-7200 鍍層膜厚分析專用X射線熒光光譜儀是公司經過2年研發，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。 | ||
| 2.2 性能優勢 | ||
| *超高分辨率、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面 *易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果 *有助于識別鍍層成分的創新型功能 *機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室 *按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的精確結果 *使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書 *用戶通過CCD及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心 *Thick系列分析儀測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享 *有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用
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| 2.3 儀器技術指標 | ||
| 1、儀器尺寸：380(W)x372(D)x362(H)mm 2、zui低檢測厚度：0.005um 3、檢測厚度上限，50 - 70um（視材料而定） 4、zui多測試層數：8層 5、測量時間 ：30-200s ( 系統自動調整 ) 6、分辨率：見下面探測系統詳細參數說明 7、準直器：可選擇多種定制切換 8、濾光片：可選擇多種定制切換 9、CCD觀察：260萬像素高清CCD 10、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz 11、額定功率：350W 輸入電流：4.0A（zui大） 輸出電壓: 0 -50KV &1mA zui大功率：50W 電壓調整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調整率：0.01% （從空載到滿載） 紋波系數：0.1% （P-P值） 8小時穩定性：≤0.05% | ||
| 3.4 高分辨率CCD | ||
| 260萬像素的高清CCD，可有效的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 | ||
| 3.5 散熱系統 | ||
| 高效三維散熱系統，大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。 | ||
| 3.6 防輻射安全系統 | ||
| 有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用 | ||
四、U-7200 鍍層厚度檢測儀 儀器軟件配置
| 4.1 儀器操作軟件功能 |
| 功能特點 |
| 1、預置多條工作曲線，涵蓋銅基體、鐵基體、鋅基體等基體類型的常見鍍層，可滿足用戶常規鍍層測量的要求； 2、VisualFp基本參數法分析軟件，在分析鍍層厚度的同時分析基材及鍍層成分含量，實用價值大大超出客戶的想象空間； 3、人性化的軟件界面與操作方法，使用圖形顯示技術，既方便又直觀；結合大量操作經驗優化操作步驟，極大方便用戶； 4、完善的安全連鎖功能：配合硬件電路的防護措施，在不安全的操作發生時自動切斷X射線確保操作員不受X射線傷害； 5、數據管理：由數據庫支持的專業化報表生成、查詢打印等功能極大方便企業管理； 6、智能化軟件保護，避免不當操作對光譜儀的損傷，延長儀器使用壽命； 7、數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性； 8、穩定性自檢功能：可即時對儀器當前穩定性進行自動檢測； 9、軟件具有對多次測試結果的統計功能，極大地方便客戶管理。 |
五、儀器的外圍設備
| 5.1 儀器標配設備參數 |
| 5.1.1計算機 CPU：in雙核 內存:4G 硬盤：500G 顯示器：19英寸 5.1.2噴墨打印機 彩色噴墨印機 5.1.3儀器隨機配件及技術資料 測試薄膜 50片 保修卡 一份 合格證 一份 儀器操作手冊 一本 |
| 六、及售后服務 |
| 1、為客戶免費提供操作培訓,培訓期一至三天。 2、整機保修一年，全國聯網售后保修,并終身提供技術服務支持。 3、保修期內的非人為因素儀器損壞，免費維修。
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