表面殘余應力分析儀設備主要是針對應力測量用的，非常方便，對操作者來說也很安全。用戶可在測量中的任何狀態下訪問所有測量和測量數據。Xstress3000G3，既可在實驗室使用，也可在戶外使用，攜帶方便，一個人就可完成。只需要一個電源，從安裝到開始測量只需10分鐘左右。嵌入微軟處理器和通訊連接，把主單元與計算機用一根電纜連接上，就可進行其它擴展應用。
表面殘余應力分析儀設備根據物理學原理，使用X射線衍射法來測量殘余應力和殘余奧氏體。這是一種傳統的方法，是測量鐵素體鋼Z理想的X射線衍射法，也適用于所有晶體材料（包括陶瓷）。
技術規格：
主控單元
可自由調整。超緊湊設計
包括
-電源
-電子部件和固件控制單元
-高壓發生器
-自循環液體冷卻系統，不需外部供水
-確保安全所需的所有互鎖裝置
安全性
在敞開式X射線的防護要求上，遠高于ANSI N43.4-1993和其他工業標準的規定， 控制殘余應力
殘余奧氏體測量
實驗室精度
不需切割試樣
測角儀
標準的XSTRESS 3000測角儀-G3安裝在一個帶有磁座的三角架上。
?-傾角：可編程-60°~ +60°(標準)
?-搖擺：可編程0°~ ±6°
探測器
在?幾何系統的入射線兩側對稱安裝了高精密度的MOS線性成像探測器
角精度：0.014°-0.057°象素
軟件
操作系統：Windows。
本公司生產的XSTRESS型是分析多晶體材料的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應用于齒輪、軸承、壓力容器及其他零部件熱處理中，進行處理過程中在線分析以及中心實驗室的產品檢驗，是控制產品質量的有效手段之一。
