YND-A1氧化誘導期專用測試儀-差示掃描量熱儀技術特點：
1：氧化誘導期專用測試儀，客戶一鍵式操作，軟件全自動運行。
2：全新傳感器樣品支架，全封閉結構設計，防止物品掉入到爐體中去。
3：儀器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分 氧化誘導期氧化誘導時間（等溫OIT)和氧化誘導溫度（動態OIT)的測定。
4：內嵌10寸超大工業級別的電腦，無需另配電腦，一體化設備，顯示信息豐富，包括設定溫度、樣品溫度，氧氣流量，氮氣流量，差熱信號，各種開關狀態,流量歸零。
5：儀器右側標配四路USB接口，方便用戶外接鼠標、鍵盤、打印機，U盤等外部設備，方便用戶使用。
6：儀器內部USB通訊接口，相對于原有儀器，穩定性更強、通用性強，通信可靠不中斷，支持自恢復連接功能。
7：數字氣體質量流量計自動切換兩路氣氛流量，切換速度快，穩定時間短。
8：標配標準樣品，方便客戶校正恒溫系數。
9：預安裝軟件，無電腦適應性問題，減少由于更換使用電腦，安裝驅動錯誤導致的連接等問題。
10：支持用戶自編程程序，實現測量步驟全自動化。軟件提供數十種指令，用戶可根據自己的測量步驟，靈活組合各指令，并保存。復雜的操作就簡化成一鍵操作。
11: 配置WIN 10系統，擁有32GB容量、2GB系統內存，無需使用U盤轉移數據，儀器內部即可存儲，操作方式觸摸屏與鼠鍵均可使用
12：雙溫度探頭，分別檢測爐體溫度與樣品溫度，保證樣品溫度測量的高度重復性、真實性。
YND-A1氧化誘導期專用測試儀-差示掃描量熱儀產品應用范圍：
氧化誘導時間（OIT）是測定樣品在高溫（200攝氏度）氧氣條件下開始發生自動催化氧化反應的時間，是評價材料在成型加工、儲存、焊接和使用中耐熱降解能力的指標。
氧化誘導期(簡稱OIT)方法是一種采用差熱分析法（DTA）以塑料分子鏈斷裂時的放熱反映為依據，測試塑料在高溫氧氣中加速老化程度的方法。
其原理是：將塑料式樣與惰性參比物（如氧化鋁）置于差熱分析儀中，使其在一定溫度下用氧氣迅速置換式樣室內地惰性氣體（如氮氣）。測試由于式樣氧化而引起的DTA曲線（差熱譜）的變化，并獲得氧化誘導期（時間）OIT（min),以評定塑料的防熱老化性能。
儀器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化誘導期。氧化誘導時間（等溫OIT)和氧化誘導溫度（動態OIT)的測定。
氧化誘導期已經被納入管道行業及電線電纜強檢范圍。
技術參數：
1: 溫度范圍: 室溫~500℃
2: 溫度分辨率: 0.01℃
3: 量熱分辨率：100%，在一定條件下可以*分辨考得接近的兩個熱效力
4: 升溫速率: 0.1～80℃/min
5: 降溫速率：0.1℃/min-30℃/min
6: 恒溫溫度：室溫-500℃
7: 恒溫時間：建議＜24h
8: 控溫方式：升溫，恒溫（全自動程序控制）
9: DSC量程: 0～±500mW
10: DSC解析度: 0.01mW
11: DSC靈敏度: 0.01mW
12: 工作電源: AC 220V 50Hz或定制
13：氣氛控制氣體：氮氣 氧氣（儀器自動切換）
14：氣體流量：0-200mL/min
15: 氣體壓力：0.2MPa
16: 氣體流量精度：0.2mL/min
17: 選配坩堝：鋁質坩堝Φ6.7*3mm
18: 參數標準：配有標準物質（銦，錫，鋅），用戶可自行校正溫度
19: 數據接口：標準USB接口（接口內置，無需外部連接）
20: 顯示方式：10寸工業電腦觸摸顯示，可外接鼠標、鍵盤、U盤、打印機
21：全jin口傳感器、jin口芯片
22：全封閉支架結構設計，防止物品掉入到爐體中、污染爐體，減少維修率
23：功率：300W
