DiaInspect-P 金剛石自動粒子分析儀
DiaInspect-P 自動粒子分析儀
DiaInspect-P是一種自動顆粒分析儀，專門用于磨料的等級尺寸和形狀分析。
硬件：
該系統的主要部分是具有2個放大步驟的專業顯微鏡、數字控制照明和高質量的數字工業攝像機。該顯微鏡配有電機驅動的旋轉軸和自動顆粒輸送系統。進料器和旋轉軸由控制程序控制。攝像機通過firewire連接到圖像采集系統，從而使圖像處理軟件可以使用圖像。
軟件：
系統操作由一個易于操作的程序界面控制，該界面在普通PC機上運行。
操作原則：
粒子在旋轉的平板上移動到顯微鏡中。分析后，將顆粒吹入收集箱。圖像采集系統收集并分析每個已識別粒子的相應圖像，以便能夠檢測到大量單個粒子。粒度為400µm時，每分鐘最多可分析5000個顆粒。測量完成后，將自動生成報告。
特色：
- 一鍵式報告生成
- 一鍵式數據傳輸至EXCEL
- 每個參數的直方圖，
- 每個參數組合的散射圖
技術數據：
- 電源：110-240伏交流電
- 放大倍數
- 鏡頭1:8.8µm（像素寬度）2889 dpi
- 鏡頭2:3.7µm（像素寬度）6904dpi
- 測量范圍
- 粒度：230/270-8/10美國篩孔
- 處理時間：約2-3分鐘（5000個顆粒的制備和測試，尺寸400µm）
- 系統要求：
- 帶Windows 7或XP 32位（DE或EN）的PC
- 1x USB 2.0端口
- 1x PCI Express
- CPU-CORE : >=2
- CPU-CLOCK : >= 2.5GHZ
- 內存：>=2GB
- 監視器：>=22”（1680x1050）
計算參數：
每個粒子計算了20多個參數。
- 最小feret直徑
- feret直徑
- 圓當量粒徑
- 總面積
- 周長
- 凸周長
- 慣性矩
- 費雷特伸長
- 密實度
- 粗糙度
- 橢圓度
- “透明”顯示區域的百分比
- “透明”顯示區域的相對亮度
- CIE L*a*b系統中的顏色坐標
數據輸出：
軟件保存一個EXCEL文件，其中包含每個測試粒子的結果。每個產品的第二個文件存儲20個參數的分布曲線。
QC-功能：
測試批次的參數分布將自動與產品的公差帶進行比較。
報告：
打印的報告將自動生成。
