·采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
·分體（傳感器與儀器之間通過引線連接）、兩用（F型N型合一）。
·*的溫度補償算法。
·具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
·具有統計功能：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）。
·具有存儲功能：可存儲500 個測量值。
二、技術參數：
F型探頭：
·工作原理：磁感應
·測量范圍：0μm～1250μm
·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）
·測量誤差：3%H+1μm
·示值誤差：一點校準(um) ±(3%H+1)
二點校準(μm) ±[(1～3)%H+1]
·測試條件：最小曲率半徑(mm) 凸1.5
最小面積的直徑(mm) Φ7
基體臨界厚度(mm) 0.5
N型探頭：
·工作原理：電渦流
·測量范圍：0μm～1250μm；其中銅上鍍鉻0μm～40μm
·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）
·測量誤差：3%H+1μm
·示值誤差：一點校準(um) ±(3%H+1.5)
二點校準(μm) ±[(1～3)%H+1.5]
·測試條件：最小曲率半徑(mm) 凸3
最小面積的直徑(mm) Φ5
基體臨界厚度(mm) 0.3
