ContourX-200 三維光學輪廓儀
靈活的臺式表面形貌測量設備
ContourX-200光學輪廓儀融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供的快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
ContourX-200還配有業界的操作和分析軟件Vision64®。的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
ContourX-200具有的Z軸分辨率和準確性，提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）的所有業界的優點，卻沒有傳統共聚焦顯微鏡等產品的局限。
性能表面計量
。與放大倍率無關的業界Z軸分辨率
。尺寸的標準視場
。穩定集成防震設計
的測量與分析功能
。易于使用的界面，可快速準確地獲得結果
。自動化功能用于日常測量和分析
。泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析
。滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告
的計量設備
基于超過四十年的專有WLI創新，ContourX-200光學輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準確結果。通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設備可以在各種視野內以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，從而提供不受放大倍數影響的結果，可用于各種不同行業中的質量控制和過程監控應用。
ContourX-200對于反射率從0.05％到100％的各種表面都非常易于測量。
面的分析能力
利用強大的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了上千種定制分析參數，以提高實驗室和工廠車間的生產率。系統新攝像頭提供了更大視野，新型電動XY平臺提供了更靈活定位能力，為各種樣品和零件提供了更大的適用性和更高的測試通量。硬件和軟件組合提供了對高可重復性和高通量計量學測量功能的便捷訪問，超過了同類計量設備的能力。
