貴金屬分析檢測儀PM-650技術參數：
樣品形態：粉末壓片法、袋裝、樣品杯旋轉分析等
基質：固體、液體,粉末等
測量方式：單色聚焦X射線熒光光譜法
光學系統：HDXRF技術架構下的單色聚焦系統
測量范圍：金/銀/鉑/鈀等
工作曲線：液體、粉末、固體等
激發源：X射線管/50kV/1mA
探測器：高性能Fast SDD探測器
貴金屬分析檢測儀PM-650應用領域：珠寶制造、質量技術監督局、現金黃金兌換、零售行業、典當行/精煉行業、回收行業
對黃金等貴金屬進行分析和克拉級別鑒定
1.目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成分分析及純度成色判斷已成為一種廣泛應用、很受歡迎并且具有國家標準的支持且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比,使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速經濟的多元素檢測方法。
2.佳譜儀器生產的分析儀為用戶提供了一種操作方便且性價比高的檢測技術，無需將檢測工具探入到被測樣件的材料中，也不會損壞被測樣件,即可獲得樣件的合金化學成分信息,判斷出樣件的克拉等級.無論您是購買黃金等貴金屬，還是出售或生產珠寶，或制造金屬,亦或回收廢舊金屬,您都需要掌握一種可以極為精確地判斷克拉等級。
