無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。
- 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
- RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
- 多語言版本的64位控制和分析軟件
