光學輪廓測量儀采用的非接觸式測量方法具有測量精度高、分析功能強大、測量參數齊全以及使用方便等優點，加上其的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質量檢測。
中圖儀器的SuperViewW系列三維光學輪廓測量儀能夠以優于納米級的分辨率，以非接觸式測量樣品表面形貌，主要用于表面形貌紋理，微觀結構分析，廣泛應用于材料，光學，半導體，精密機械等等領域。
產品特點
1.雙通道氣浮隔振系統大幅減小了環境振動的影響，還可以降低高精度量測時的噪聲，提高超光滑表面的測試精度。2.一體化操作的測量分析軟件自動對焦樣品表面，自動智能配置測試參數，使原來麻煩的“找條紋”，“選擇測試參數”過程，在一分鐘之內，自動完成。
3.雙重防撞保護功能，除初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外，另在Z軸上設計有機械電子傳感器，當鏡頭觸碰到樣品表面時，儀器自動進入緊急停止狀態，能保護樣品和設備的安全。
SuperViewW系列三維光學輪廓測量儀分辨率0.1μm，重復性0.1%，可為樣品表面測量提供快速，便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。可以用于測試各類表面。比如透明的玻璃表面，加上增透膜，其反射率小于1%；也可以用于測試直至99%反射率的各類高反表面。
技術參數
產品型號：SuperView W1系列產品名稱：光學3D表面輪廓儀
影像系統：1024×1024
光學ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）
干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）
XY平臺：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動、手動同時具備，均為光柵閉環反饋
Z軸行程：100mm，電動
Z向掃描范圍：10mm
Z向分辨率：0.1nm
可測樣品反射率：0.05%-99%
水平調整：±5°手動
粗糙度RMS重復性：0.005nm
臺階高測量：準確度0.3%，重復性0.08% 1σ
主要特點：非接觸式無損檢測，一鍵分析、測量速度快、效率高
生產企業：深圳市中圖儀器股份有限公司
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SuperViewW系列三維光學輪廓測量儀集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優點的擴展型相移算法EPSI，單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型，其的3D重建算法，自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合測量精度可達亞納米級別，讓3D測量變得簡單。
深圳市中圖儀器股份有限公司是，致力于精密測量、計量檢測等儀器設備的研發、生產和銷售。
自成立以來一直以“致力于精密測量、計量檢測等儀器設備的研發、生產和銷售”為使命，在幾何量測量領域的潛心研究十幾年，如今在微納米運動設計制造、微納米顯微測量三維重建、顯微測量3D形貌分析、大尺寸三維空間測量、精密傳感測頭、光柵導軌測控等眾多技術領域形成了設計、制造優勢，具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力。
