日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡特性
日常使用的SEM,好用! 該設備分辨率1nm、探針電流300nA(之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息,用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡
Zeromag具有將樣品臺圖像、光學像和SEM像聯動的功能,樣品臺上有多個樣品和觀察特定區域時,很容易搜尋視野。
※若顯示光學像,需要選件樣品臺導航系統SNS
■ Integrated EDS & Live Analysis
一體化EDS和實時分析
SEM操作界面上有EDS分析操作,觀察分析無障礙。Live Analysis具有實時顯示特征X線譜圖功能。
■ SMILE VIEW™ Lab
快速生成數據報告