ED400渦流測厚儀
ED400渦流測厚儀是ED300渦流測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。ED400渦流測厚儀是ED300測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。上海京工銷售各類ED400渦流測厚儀，多年銷售經驗積累為您提供高效服務。儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。ED400渦流測厚儀采用磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如：鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等)，本儀器能廣泛地應用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領域。
沈陽天星ED400適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量檢驗。
儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
ED400渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 ED400量程達到0～500μm。
＊精度高 ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
ED400渦流測厚儀技術參數
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
沈陽天星ED400適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量檢驗。
儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
ED400渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 ED400量程達到0～500μm。
＊精度高 ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
ED400渦流測厚儀技術參數
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
ED400渦流測厚儀配置與選配
標準配置 主機 1臺 探頭 1支 基體 1塊(6063合金) 校正箔片 1片(約50μm，附檢測報告) 使用說明書 1份 合格證 1份 保修單 1份 手提式儀器箱1個 | 可選附件 備用探頭 基體 校正箔片(約50μm，附檢測報告) |
影響ED400渦流測厚儀的一些可能因素：
基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對ED400渦流測厚儀進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對ED400渦流測厚儀進行校準。
基體金屬厚度
每一種ED400渦流測厚儀都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
