在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據測量任務，可使用 GD 25 驅動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統通過組合支架固定到測量立柱。
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據測量任務，可使用 GD 25 驅動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統通過組合支架固定到測量立柱。
- 節省空間型設計：兩個驅動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
- 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和的分辨率
- 只需在軟件平臺內進行切換并更換驅動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
| 接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
| 測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
| 測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
| 針尖半徑 | 25 |
| 掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
| 分辨率 | Z 方向，相對探針針頭： Z 方向，相對測量系統： |
| 掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
| 取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差： 后緣高至 88°，前緣高至 77° |
| 定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
| 導塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
| 測量原則 | 探針法 |
| 輸入 | R 測頭，MFW 250 光學測頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*僅結合 PGK 或 GD 120 CNC 驅動裝置） |
| 測量范圍 mm | (in Z) 50 mm MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（ ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（ ±30,000 µm） |
| 掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， （.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸）， 測量至擋塊，可變 |
| 采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
| 測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 （可在 MarSurf XC 20 中設置） |
- MarSurf ST 750 測量立柱
- 平行虎鉗
- 設備工作臺
軟件選項：
- 輪廓處理選項
- 主波紋度選項
- 用戶定義參數
- 拓撲選項
- QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
- 螺紋評定選項
- 將測量站與一個測量支架和兩個驅動裝置結合（PCV 200 和 MarSurf GD 25）
- 將測量站與快速更換支架結合 (GD 120, PCV 20)
- MarSurf LD 130 / 260 用于對組件進行精密輪廓和粗糙度評估
- MarSurf XCR 20 包含計算機、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 軟件、Mahr 許可密鑰
- TFT 顯示器
- MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驅動裝置
- MarSurf ST 500 測量立柱包含組裝支架
- 校準套件，PGN-3
- MCP 21 手動控制面板
- CT 300 XY 工作臺
