主要特性：
簡體中文界面
Windows 5.0操作系統
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術的XFlash®SDD檢測器
分析元素最小從Mg開始，達40多種。
分析范圍：ppm級至50以上
實時分析數據和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣
測量無損，不受樣品形狀限制
儀器自動校準，自動存儲測量數據，無需人工干預
主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快
儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環境
在開機狀態下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態，以節省電源和保護儀器
X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命
選配GPS定位系統，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
FP模式，大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。
野外操作時，自由攜帶，非常方便
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技術規格
重量 |
1.5kg | ||||||||||||||||||
| 尺寸 | 30cm（L）x10cm（Wx 28cm（H） | ||||||||||||||||||
| 激發源 | X射線管，Ag靶，40kV | ||||||||||||||||||
| 檢測器 | XFlash®硅漂移檢測器（SDD）, 檢測速度快； 能量分辨率高：145eV, 計數率：250kcps | ||||||||||||||||||
| 冷卻系統 | Peltier半導體冷卻系統 | ||||||||||||||||||
| 電源 | 交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續工作8-12小時 | ||||||||||||||||||
| 工作條件 | 溫度：-20+55 濕度：095
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