蔡司顯微鏡LSM 900激光共聚焦顯微鏡(CLSM)是一臺用于材料分析的儀器，可在實驗室或多用戶設施中表征三維微觀結構和表面形貌。LSM 900可對納米材料、金屬、聚合物和半導體進行精確的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動光學顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時具有所有的光學顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進行原位觀察，節省大量的時間。自動化也會給您的數據采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優勢，例如表面粗糙度的評估。
特點：
結合光學顯微和共聚焦成像
LSM共聚焦平臺LSM 900專為2D和3D的嚴苛材料應用而開發。
您可以用非接觸式共聚焦成像來表征樣品的形貌特征和評估表面粗糙度
以無損方式確定涂層和薄膜的厚度
您可以運用各種成像方式，包括在光學觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像
在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。
