離子研磨儀IM4000Ⅱ是樣品用于掃描電鏡觀察（SEM）和表面分析（EDX，EBSD等）的前處理工具。他能無應力的去除樣品表面層，加工出光滑的鏡面，且對于含有硬度不同的復雜材料同樣簡單。
特點：
1. 兼容平面和截面兩種加工方式；
2. 加工效率高，加工速率>500μm/h；
3. 可加工樣品尺寸大：平面加工Ф50mm×H25mm，截面加工20(W)×12(D)×7(H)mm；
4. 支持多種擴展附件，例如真空轉移盒、冷凍樣品臺；
5. 操作便捷，采用觸摸屏控制，高精度光鏡頂位。
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超微量紫外可見分光光度計
