ATP5100-高靈敏度光纖光譜儀
產品概述
ATP5100是奧譜天成研制的高性能微型光纖光譜儀，它采用2048像素的背照式線性CCD，提供了較高的靈敏度，可覆蓋約165-1100納米（具體波長范圍，需依據不同光柵配置）。它們非常適合深紫外光（真空紫外光），紫外-可見光和可見-近紅外光測量。
ATP5100光譜儀的內部，都有一個薄型背照式面陣 CCD探測器，它設置在一個穩健的、可配置的光具座上，同時，奧譜天成為ATP5020特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界*水平。有各種配件和光具座供您選擇，我們的應用銷售工程師，會根據您的測量需要幫助您挑選配置。
ATP5100可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。
ATP5100只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。
ATP5100-高靈敏度光纖光譜儀
產品詳情
高性能 — 高靈敏光譜儀，用于熒光測量和拉曼測量，以及用于提高吸光度和透射率
精確控制 — 連接至Maya2000 Pro的配件，精確功能可觸發
低陳本— 相比傳統臺式儀，成本低很多，但性能卻高得多
特點：
探測器：背照式CCD
探測器像素：2048
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100nm
光譜分辨率: 0.1-2 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
典型應用：
拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
紫外、可見和短波近紅外
波長檢測
探測器 | |
類型 | 線陣背照式CCD |
探測光譜范圍 | 165-1100 nm |
有效像素 | 2048 |
像元尺寸 | 500μm×14μm |
全量程范圍 | ~200 ke- |
靈敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪聲 | 6 e- |
光學參數 | |
波長范圍 | 165-1100 nm |
光學分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
性噪比 | >1000:1 |
動態范圍 | 3000：1 |
工作溫度 | -10-40 oC |
工作濕度 | < 85%RH |
光路參數 | |
光學設計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
電氣參數 | |
積分時間 | 1 ms - 130 second |
數據輸出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供電電源 | DC 5V±10% |
工作電流 | <2.3A |
存儲溫度 | -20°C to +70°C |
操作溫度 | -10°C to +40°C |
物理參數 | |
尺寸 | 102×72×34 mm3 |
重量 | 0.8 kg |
Sealing | Anti-sweat
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