TAM試片(美國磁通五點試片)
TAM試片是滲透檢測試塊,為4英寸X6英寸的不銹鋼試片,可同時檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。試片一邊為粗糙表面用于檢測水洗性,另一邊為含有5個星型缺陷的鍍鉻拋光區,星型缺陷從粗大到極細小順序排列,用于檢測靈敏度。
試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業標準要求。
產品關鍵字:TAM試片,美國磁通五點試片
TAM試片(美國磁通五點試片)
TAM試片是滲透檢測試塊,為4英寸X6英寸的不銹鋼試片,可同時檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。試片一邊為粗糙表面用于檢測水洗性,另一邊為含有5個星型缺陷的鍍鉻拋光區,星型缺陷從粗大到極細小順序排列,用于檢測靈敏度。
試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業標準要求。
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