天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的性能特點：滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；高分辨率探頭使分析結果更加精準；良好的射線屏蔽作用；測試口高度敏感性傳感器保護。
以下是艾克賽普為您介紹天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普，聯系電話： 。
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的標準配置：開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器。保護傳感器。計算機及噴墨打印機。
如果您需要天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀及天瑞品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門： 。
關鍵詞：
