ISONIC 2010 多功能相控陣仿真成像檢測系統
符合標準
本設備符合以下標準：
美國 ASME 標準 2541 –手動相控陣超聲檢驗的使用
美國 ASME 標準 2557 –第 4 章手動 S-掃查相控陣超聲檢驗的使用 美國 ASME 標準 2558 –第 4 章手動 E-掃查相控陣超聲檢驗的使用
美國材料實驗協會 ASTM 1961– 06 –使用帶聚焦檢測裝置的帶狀識別機械化超聲檢驗環型焊縫的標
準實施規范
美國 ASME 標準 Section I –鍋爐及壓力容器規范第Ⅰ卷 動力鍋爐建造規范
美國 ASME 標準 Section VIII, Division 1 –ASME 鍋爐及壓力容器規范第Ⅷ卷 1 壓力容器建造規則 美國 ASME 標準 Section VIII, Division 2 –ASME 鍋爐及壓力容器規范第Ⅷ卷 2 壓力容器另一規則
美國 ASME 標準 Section VIII Article KE-3 – 焊縫檢測及驗收標準
美國 ASME 標準 2235 Rev 9 –以超聲波檢測代替射線檢測 歐洲標準 1714:1998 –焊縫無損檢驗 焊縫超聲檢驗
歐洲標準 1713:1998 –焊縫無損檢驗 超聲檢驗 焊縫的跡象表征
英國標準 7706:1993 –用于缺陷探測、定位和定量的超聲時間渡越衍射(TOFD)法的校驗和調整指南 歐洲標準委員會 CEN/TC 121/SC 5/WG 2 N 146 –TOFD 技術用于焊縫檢測
美國材料實驗協會 ASTM E 2373 – 04 –超聲時差衍射技術(TOFD)標準
歐洲標準 583-5:2001 –無損檢測 超聲檢測 不連續性的特性與尺寸 歐洲標準 583-2:2001 –無損檢測 超聲檢測 靈敏度和范圍設定
德國 Appendix 1 to AD-Merkblatt HP5/3 標準 — 壓力容器及焊縫的無損檢測方法要求
產品特點
ISONIC 2010 地結合了相控陣、常規超聲和TOFD等功能，能夠實現數據99%記錄并成像，具備體積小、重量輕、可配備電池等優勢，是超聲檢測工作的得力助手。
相控陣模式具備強大的32:32通道功能，激發和接收陣列孔徑均可獨立調節，每個陣列孔徑都由1到32晶片來 構成。激發/接收陣列孔徑中的晶片可以重合、部分重合或不重合，靈活地控制入射角度，聲程及波 形種類。每個通道均配備A/D 轉換器。所以任何形式及尺寸的陣列孔徑均可進行平行激發， A/D轉化及“實 時”相位調整，提供了的檢測速度。
技術參數
基本參數
重復頻率： 10-5000Hz，1Hz 步進
CPU: AMD LX 800 - 500MHz
內存: 1G
閃存: 4G
顯示屏: 防眩目 6.5”觸摸屏，分辨率 800 600
控制: 內置鼠標鍵盤
接口: 2USB 口, 1 個以太網口，一個 VGA 接口
操作系統: WindowsMT XP Embedded
編碼器接口: 步進式編碼器
外殼: IP 53 防滑鋁，帶把手
外形尺寸: 265 x 156 x 101 mm – 無電池
265 x 156 x 139 mm – 有電池
重量: 2.500 kg – 無電池
3.430 kg – 有電池
常規超聲和 TOFD 模式
通道數量： 1
脈沖種類: 雙極脈沖方波
初始轉換: 7.5 ns (10-90% 上升沿 / 90-10% 下降沿)
脈沖幅度: 在阻抗 50 Ω的情況下，激發電壓平穩可調(12 級) 50V … 400 V
脈沖寬度: 50…600 ns 獨立可調，10 ns 步進 模式: 單晶 / 雙晶
重復頻率: 10...5000 Hz ，1 Hz 步進 增益: 0...100 dB ，0.5 dB 步進
高級降噪設計: 85 μV 尖峰輸入，對照 80 dB 增益 / 25 MHz 帶寬
頻段: 0.2 … 25 MHz 寬帶
A/D 轉換: 100 MHz 16 bit
濾波: 32 階帶通濾波器可降低和提高頻率界限
A 掃描顯示模式: 射頻, 全波，正半波，負半波，頻譜
聚焦法則 DAC / TCG: 理論的– 輸入 dB/mm (dB/") 數值
實測的–不同深度連續記錄回波幅度
46dB 動態范圍，斜率≤20dB/µs，容量≤40 個記錄點
DGS: 18 個探頭庫 / 無限擴展
閘門: 2 個獨立閘門 / 無限展開
閘門起點與寬度: 在 A 掃描界面均可設定，0.1mm 步進 閘門高度: 5…95 %A 掃描界面高度，1 %步進
測量功能 – 數顯讀數: 27 個自動功能 / 可擴展; 復合材料雙聲速測量;斜探頭支持 曲面/ 厚度 /反射波次數
修正;所有探頭的聲速與延時校準
凍結功能: 凍結所有– A 超與譜線 / 凍結尖峰 – A 超 / 全部測量功能, 閘門控制凍結信號,
6dB 增益可調
掃查與成像模式: 深度 B 掃描, 當量 B 掃描, CB 掃描, TOFD
單行掃描記錄長度: 50-20000mm
數據存儲: 99% 真實數據采集
相控陣模式
通道數量： 32
脈沖模式： 雙極脈沖方波
初始轉換： ≤7.5 ns (10-90% 上升 / 90-10% 下降)
脈沖幅度： 阻抗 50? 時，激發電壓平穩可調(12 級) 50 V-300 V
脈沖寬度： 50-600 ns 獨立可調，10 ns 步進 探頭種類 線性排列 / 面性陣列
激發孔徑： 1-32 晶片
相位調整： 0-100 µs，5 ns 分辨力 接收孔徑 1-32 晶片
增益范圍： 0-100 dB，0.5 dB 步進
高級降噪： 85 µV 尖峰輸入，對照 80 dB 增益 / 25 MHz 帶寬 頻段范圍 0.2-25 MHz 寬帶
A/D 轉換： 100 MHz 16 bit
信號疊加： 實時, 無復雜設計的多路技術
A 超模式： 射頻，全波，正半波，負半波，頻譜
DAC/TCG： 理論的-輸入材料衰減系數
實測的–不同深度連續記錄回波幅度
46dB 動態范圍，斜率≤20dB/µs，容量≤40 個記錄點
A 超閘門： 2 個獨立閘門 / 無限展開
閘門調節： 起點與寬度在 A 掃描界面均可設定，0.1mm 步進 閘門高度 5-95%A 掃描界面高度，1%步進
聚焦法則： 8192 個
掃查模式： 線性 B 掃描 – 常規及真實定位
扇形 S 掃描 – 常規及真實定位
多模式同步掃查功能 俯視圖、側視圖及主視圖
三維成像，3D 立體視圖
數據存儲： 99% 真實數據采集
