透射、反射、吸收光譜系統

LY-DR320 固體粉末漫反射率測量系統

本系統采用波長連續可調單色光源和積分球整合而成，測試光為垂直光路，樣品盛放裝置為小型抽屜式樣品盒，方便放置粉末類樣品，易于替換。

技術規格：

■ 光譜測量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：≤2nm

■ 光譜掃描步距：0.2-10nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm（近紅外區）

■ 測量誤差：≤1%（紫外-可見區），≤2%（近紅外區）

■ 重復性：≤1%

■ 測試光軸與試樣夾角：不大于10°

■ 樣品尺寸(典型)：≤ ?10(D) *3(H)(mm)

LY-DR150 平面材料漫反射率與透射率測量系統

本系統結構與LY-DR320相同，但測試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm平臺，方便放置各類平面材料，如各類功能性布料。同時，系統整合透過率測量探測器，可測量厚度為5mm以下的各類透光材料，可將各類透光器件的漫反射率與透過率測量整合成一體。

技術規格：

■ 光譜測量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：≤2nm

■ 光譜掃描步距：0.2-10nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm（近紅外區）

■ 測量誤差：≤1%（紫外-可見區），≤2%（近紅外區）

■ 重復性：≤1% (450nm-1800nm)

■ 樣品尺寸(典型)：直徑≥15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度須＜5mm

除了漫反射測量系統，我司還提供濾光片、光學鏡頭透過率測量系統等。