InframetSWIR成像儀ST 200

由于多種原因，SWIR成像儀（短波長紅外）是監視電光成像儀的重要組成部分。首先，InGaAs技術的進步使設計成本相對較低的SWIR成像器成為可能。其次，InGaAs成像儀非常靈敏，即使在漆黑的夜晚也可以生成觀察到的風景圖像。第三，與在可見/近紅外波段工作的電視攝像機相比，SWIR成像儀更不容易受到惡劣的大氣條件的影響。第四，即使使用比用于熱像儀設計的光學器件小得多的光學元件構建，SWIR成像器也可以生成高分辨率圖像。 SWIR成像器通常使用觀察到的目標反射的輻射來創建這些目標的圖像，類似于電視攝像機。 SWIR成像儀還可以使用觀察到的目標發出的熱輻射來創建這些目標的圖像，例如熱成像儀。由于具有這些功能，可以使用測試電視攝像機的方法或測試熱像儀的方法來測試SWIR。 InGaAs FPA的參數也可用于表征SWIR成像儀。

Inframet建議通過以下三種方式來表征SWIR成像儀：a）測量電視攝像機的典型參數（分辨率，最小可分辨對比度，MTF，失真，FOV，靈敏度，SNR，等效噪聲輸入，固定模式噪聲，不均勻性），b）測量熱成像儀的典型參數（MRT，MDT，MTF，NETD，FPN，不均勻性，畸變，FOV），c）測量InGaAs FPA模塊的參數（平均檢測度，等效噪聲輻照度，動態范圍）。

ST測試系統通常是可變目標測量系統，它使用一系列不同的目標將其圖像投影到測試的SWIR成像器的方向。成像器會生成投影圖像的變形副本。成像儀生成的圖像的質量由觀察員或軟件進行評估，并測量SWIR成像儀的重要特性。ST測試系統由反射式離軸準直儀，寬帶光源，中溫黑體，電動轉輪，一組目標，帶通濾波器，PC，圖像采集卡和測試軟件組成。