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借助于成熟的FluoroLog®技術，Nanolog®采用模塊化設計，即可實現穩態測量，也可實現瞬態測量（TCSPC技術），系統搭配成像光譜儀，可實現紅外三維熒光快速測量。
NanoLog ®系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究，NanoLog ®可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器，同時也可實現紫外-可見區熒光光譜測量。專為單壁碳納米管（SWNTs）設計的NanoSizer®軟件，可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內徑分布，并且在微秒時間內就能獲得完整的二維光譜圖，1秒內獲得的激發-發射三維熒光光譜圖。
可選附件：
· 超連續激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發裝置
· 自動滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件
技術參數：
· 450W的大功率連續氙燈，涵蓋UV~NIR波長范圍
· 快速獲得全波長范圍激發-發射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測器：800~1700nm；規格可選：256×1，512×1和1024×1，單像元25µm；噪音水平：650e-rms （液氮制冷）；可選電制冷；擴展范圍可選（1.1-2.2µm）
· iHR320發射光譜儀：焦長=320mm；f/4.1；線色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全軟件控制三光柵塔輪（所有測定在光柵刻線數1200gr/mm條件下）
· 固態近紅外檢測器，光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定，采用時間相關單光子計數技術測定熒光壽命范圍：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光壽命范圍1us~>10s（UV~NIR）
主要特點：
· 一秒內獲得激發-發射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
· 高光譜分辨率
· 易于實現SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求：
- PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
- InGaAs陣列檢測器用于NIR數據的快速采集
- CCD陣列檢測器用于UV-Vis數據的快速采集
· 同時解析量子點
· 易于實現能量轉移研究
· 模塊設計以滿足不同實驗的需求
