X熒光光譜儀EDX1800B主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有定特殊性波長的X射線，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有定的關系，據此，可以進行元素定量分析。用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。
產品介紹
X熒光光譜儀EDX1800B測試ROHS主要針對歐盟指令中重金屬檢測的儀器，天瑞儀器針對X熒光光譜儀ROHS測試EDX1800X在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款EDX1800B熒光ROHS測試儀。應用新代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
優點
a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同試樣可反復多次測量，結果重現性好。d) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
標準配置
移動樣品平臺
信噪比增強器
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
應用領域
X熒光光譜儀RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
廠家介紹
天瑞儀器股份有限公司是專業生產ROHS檢測儀，鍍層測厚儀，氣相色譜質譜聯用儀（GCMS）,ICP電感耦合等離子體光譜儀，原子熒光光譜儀，x射線測厚儀，ROHS檢測設備，X射線鍍層測厚儀，，ROHS檢測儀，液相色譜儀，手持式，原子吸收光譜儀，X射線熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， 液相色譜質譜儀（LCMS）,ROHS儀器等分析儀器，涉及的儀器設備主要有EDX1800B、Thick800A、ICP2060T、GCMS6800、AAS 9000、AAS 6000等。
