測鍍層X熒光光譜儀 規格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環保檢測
上海奧析科學儀器有限公司是集開發、研制、生產分光光度計,紫外分光光度計,火焰分光光度計,熒光分光光度計等各種分析器及實驗室相關設備為一體，以實驗產品為核心的專業性技術企業。在經營自主品牌產品之外，本公司還和國內外多家名企業合作。
上海奧析科學儀器有限公司主要產品有分光光度計、火焰分光光度計，熒光分光光度計，原子吸收、天平、超聲波等各類型儀器。廣泛應用于大專院校、科研機構、制藥、石油、化工、食品、醫院、輕工、污水處理、環境檢測、水質分析、農林業、牧漁等行業。
本公司始終追求*品質和盡善盡美的服務，不斷加強與國內外名專家的交流與合作，公司中擁有一批具有高級技術職稱的專家做指導，擁有從事各類實驗方案的專家和專業人才。公司擁有一批致力分析儀器開發、研制、生產十多年的團隊。他們會為客戶提供專業實驗方案及技術咨詢、設計、改裝和升級。提供較好的解決方案等技術服務，保障專業完善的售前、售中、售后服務。
分光光度計,原子吸收,液相色譜儀,氣相色譜儀,純水機,天平、超聲波,天平、超聲波,
