EDX1800B型 X熒光分析儀具有分析精度高、測試速度快、測試簡單等優點?？赏隄M足RoHS/WEEE相關管控要求，符合際電工委員會IEC62321標準及中環保標準所規定的技術要求和技術規范。
． EDX1800B應用領域：
1．分析從硫（S）到鈾（U）之間的Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
2．對RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）進行測試及無鹵測試。
3．金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定分析。
二． EDX1800B性能特點:
1.檢測樣品為規則樣品與不規則樣品，包括塊狀、片狀、線狀。樣品類型為塑膠、金屬、粉末、液體。
2.高壓電源。功率50 W。電壓0 -50 KV，電流0-1000uA。
3.X光管。功率50W，管壓5-50KV ；管流電流0-1000uA。
4.進口原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
5.高信噪比的電子線路系統。
6.八個準直器和四個濾光片的電動組合，軟體自動切換，滿足各種測試方式的應用，降低分析元素附近的背景強度，提高分析限。
7.多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制，提高分析度。
8.內置高清晰攝像頭，的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。
9.載物測試平臺，配有微調裝置，實現檢測物的定位與檢測區域的理想調整。
10.小樣品腔尺寸(閉倉門測試)：460×298×150mm。大樣品腔尺寸(開倉門測試)：無限制，部分取代手持式功能。
11.三維散熱系統：大幅度提供儀器的性、穩定性。
12.輻射安系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線防護系統。
13. 分析軟件：際*的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，面測試數據的性。
三． EDX1800B技術指標：
1.測量元素范圍：從硫（S）到鈾（U）。
2.元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）。
3.同時分析元素：次性可測幾十種元素。
4.測量時間：60秒-200秒。
5.樣品類型：塑膠、金屬、粉末、液體。
6.檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作環境：溫度為溫度 15～30℃ 濕度 ≤85% （不結露）。
8.電源：交流220V±5V,選配高精度參數穩壓電源。
9.分辨率能達到149eV±5。
10.樣品腔尺寸：460×298×150mm。
11. 外觀尺寸：550×416×333mm。
12.電源：AC 220V～240V、50Hz。
13.額定功率：800W。
14.重量：約45KG.
四． EDX1800B主體配置：
1.薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高壓電源。
3.原裝美高性能電制冷Si-Pin半導體探測器。
4.大樣品測量腔。
5.移動平臺。
6.光路增強系統。
7.高信噪比電子線路系統。
8.高清晰攝像頭。
9.自動切換型準直器和濾光片。
10.三重安保護模式。
11.整體鋼架結構，力度的。
12.計算機、液晶顯示器、激光打印機。
13.分析軟件。
14.標準物質：銀校正標樣等。
15.儀器的其它配置：樣品杯 、測試薄膜、保險絲。
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