余弦校正器
余弦校正器是一種用于光譜輻射取樣的光學元件，用于收集180°立體角內的光，從而消除了其它取樣裝置如裸光纖,準直透鏡和積分球中由于光收集取樣幾何結構限制所導致的光學耦合問題。
Avantes公司提供四種不同型號的余弦校正器CC-UV/VIS和CC-VIS/NIR的有效直徑為3.9mm，尺寸為18mm(長)×6.5mm(外徑)。CC-UV/VIS采用特氟龍材料,特別適合200-800nm譜段,CC-VIS/NIR采用Radin石英材料,覆蓋整個紫外/可見/近紅外光譜范圍200-2500nm。CC-UV/VIS/NIR-8MM與CC-VIS/NIR類似,但有效直徑增大至8mm,尺寸為29mm(長)×12mm(外徑)。特殊的CC-UV/VIS/NIR-5.0用于太陽輻射測量，有效直徑為20mm,視場角為5°,比其它余弦校正器要大得多,317mm(長)×38mm(外徑)。
技術數據
| CC-UV/VIS | CC-UV/VIS/NIR | CC-UV/VIS/NIR-8.0 | CC-UV/VIS/NIR-5.0 | |
| 有效直徑 | 3.9 mm | 8.0 mm | 20.0 mm | |
| 漫射材料 | Teflon (200-800nm),,約1 mm厚 | Radin石英(200-2500 nm), 約1.5mm厚 | ||
| 尺寸 | 6.5 mm 直徑, 18 mm 長 | 12 mm 直徑, | 38 mm 直徑, 317 mm 長 | |
| 采樣幾何結構 | 接收180°視場角的光 | 接收5°視場角的光 | ||
| 接頭 | SMA 905 | |||
| 工作溫度 | -30°C 到 +100°C | |||
訂購信息
| CC-UV/VIS | 用于UV/VIS波段的余弦校正器, 包括SMA接頭 |
| CC-VIS/NIR | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 包括SMA接頭 |
| CC-UV/VIS/NIR-8MM | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 8mm 有效面積，包括SMA接頭 |
| CC-UV/VIS/NIR-5.0 | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 5°視場角，包括SMA接頭 |
