日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍：0 至 2.5mm
2.通過調零和標準調整可立即進行測量
規格
測量范圍 0～2.50mm
顯示方式 LCD數字、顯示保持
顯示分辨率 1μm：0-999μm 0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm 0.01mm：1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內
工作溫度 0～40℃（無凝結）
重量 約270克（含電池）
配件 標準厚板、測試調零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍：0 至 2.5mm
2.通過調零和標準調整可立即進行測量
規格
測量范圍 0～2.50mm
顯示方式 LCD數字、顯示保持
顯示分辨率 1μm：0-999μm 0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm 0.01mm：1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內
工作溫度 0～40℃（無凝結）
重量 約270克（含電池）
配件 標準厚板、測試調零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
