秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗，X熒光元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于：通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數據特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數字多道技術，采用超薄鈹窗有高激發效率的X射線管，使儀器計數率更高，穩定性更好，適用面更廣；
優化了光路結構、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
抗震性設計，高保護光路設計使得該儀器通過了第三方機構高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；
在現場測試、在線檢測以及各類地質勘察多元素檢測中充分發揮作用。
X熒光元素錄井分析儀EDX5500H主機標準配置：
上照式光路系統直射模式 FAST-SDD探測器 數字多道處理器 高壓鈹窗X射線管 智能測試軟件 校正模塊內置 封閉式定向散熱系統
高阻尼可動防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭
整套設備包括: Ｘ熒光分析主機、電腦、打印機、粉碎機、壓片機、真空泵
錄井行業應用案例
l 巖心成份普查：
僅需簡單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。
l 現時分析
能快速、現場追蹤巖心數據，圈定油氣邊界。單個樣品30多種元素測試僅需1~4分鐘；
l 現場分析
減震、超小的真空腔、超穩固樣品靜態控制結構設計使儀器可以應對各種現場環境的檢測任務；
儀器性能優勢：
儀器外形小巧，簡潔大方，可用于車載和實驗室，使用方法簡單，測試效率高；
測試時上照式光路設計加上真空測試腔有效杜絕現場環中粉塵對探測器的污染；
準直器大化設計使樣品受激光斑達150mm2 保證測試信號的豐富性，提高測試準確度
封閉式定向風冷散熱保證X射線管工作溫度穩定，延長X射線管壽命；
分析樣品速度快，快可達60S，并且可同時分析40種元素；
高阻尼可動支腳防震設計加上超穩真空控樣設計保證了每一個樣品與光管、探測器幾何關系時刻相一致，屏蔽現場震動所造成的影響；
大面積厚晶體FAST-SDD探測器，配上Rh靶X光管以及良好的散熱性，有力地確保測試穩定；
X射線屏蔽設計和高分子材料及安全聯動裝置有效保證無輻射外漏，讓測試人員安全放心使用；
