半導體器件溫度交變測試設備 返回列表頁

一、半導體器件溫度交變測試設備工作原理

主要是通過內部的制冷和加熱系統來控制箱內溫度的變化。具體來說，高低溫試驗箱的內部包括加熱器、制冷器、溫度傳感器、濕度傳感器、控制器等部件。

二、半導體器件溫度交變測試設備技術參數：

指氣冷式在室溫20℃，空載時

規格型號：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容量：

80升內箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

溫度范圍：

A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

溫度精度：±0.01℃

溫度波動度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

濕度范圍：20%RH～98%RH

濕度精度：±0.1%R.H

濕度波動度：±2.0%R.H.

濕度均勻度：±3%R.H.

升溫速率：平均3℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標規格

降溫速度：平均1℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標規格

三、制冷原理

高低溫試驗箱的制冷原理通常采用壓縮機制冷或制冷劑循環制冷的方式。這兩種制冷原理都可以將熱量從試驗箱內部轉移到外部，從而降低試驗箱內的溫度，實現制冷效果。

1）壓縮機制冷：

壓縮機制冷是一種常見的制冷方式，類似于家用冰箱的工作原理。

首先，制冷劑進入壓縮機，被壓縮成高壓高溫的氣體。

高壓氣體進入冷凝器，通過散熱器散發熱量，變成高壓液態制冷劑。

高壓液態制冷劑流經膨脹閥，壓力迅速降低，變成低壓低溫的液體制冷劑。

低壓液體制冷劑進入蒸發器（蒸發器是試驗箱內部的散熱器），在蒸發過程中吸收試驗箱內部的熱量。

吸收熱量后，制冷劑變成低溫蒸汽，再次進入壓縮機，循環進行制冷。

2）制冷劑循環制冷：

制冷劑循環制冷是另一種常見的制冷方式，常用制冷劑包括氟利昂和氨等。

制冷劑通過循環泵將制冷劑從蒸發器中吸收的熱量輸送到冷凝器中。

蒸發器中的制冷劑蒸發吸收熱量，冷卻試驗箱內部，然后經過循環泵的推動，進入冷凝器。

制冷劑在冷凝器中放熱，將吸收的熱量釋放到環境中，從而冷卻制冷劑，使其變成液體狀態。

制冷劑繼續流動回到蒸發器，進行循環制冷。

無論是壓縮機制冷還是制冷劑循環制冷，高低溫試驗箱都能通過控制制冷系統的運作，調節試驗箱內部的溫度，從而實現對樣品或產品進行高低溫循環試驗。