鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品際化,我出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。目前鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚。
Thick800A鍍層測厚儀介紹
X射線電鍍測厚儀指用X射線方法測量電鍍層厚度的儀器,也用于鍍層成分分析。
X射線電鍍測厚儀儀器優點:
1、快速檢測,檢測個點的厚度僅需要幾秒到幾十秒
2、無損,無需要破壞樣品,直接經過X射線照射,就可得出鍍層厚度數據
3、便捷,對樣品沒有特殊要求,基本無需對樣品進行處理
X射線鍍層測厚儀Thick800A介紹
研發生產的鍍層測厚儀Thick 800A
X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞儀器在Thick 680的基礎上研發生產的新代鍍層測厚儀。新儀器在硬件、軟件上都有很大的改進,運用新型的上照式設計,配備*的Si-Pin半導體探測器,軟件上加入了無標樣FP法的,使儀器在鍍層行業的運用上更廣泛了。而且天瑞儀器更是從美采購了套的電鍍鍍層標樣,能夠滿足電鍍和表面處理廠家幾乎所有的鍍層厚度的測量。同時儀器還可以分析電鍍液及鍍層成分的分析。
鍍層測厚儀Thick 800A特點:
該儀器專門針對電鍍及表面處理行業中的鍍層厚度測量、膜厚檢測、鍍層元素分析和電鍍液的成分分析。
1、上照式,X射線光線從上方照射到檢測樣品上,對樣品的形狀沒有要求,可以滿足不規則樣品的測試需求,而且更適合測量硅晶片等不適合接觸測量臺的樣品;
2、狹縫(準直器),主要是限制X射線的照射面積,可以調節X射線的尺寸,以滿足各種尺寸樣品的測試需求。儀器可以提供4種準直器,分別是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四種,小直徑達0.1mm,可以輕松實現精小部位的測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,根據樣品的大小,選擇合適的準直器,得到足夠的激發強度,使測量更加準確;
3、樣品測試平臺,儀器可分為手動移動平臺和高精度的可編程的自動移動平臺,重復定位的精度小于0.005mm;
4、輔助光斑定位測量,簡便快捷的激光樣品定位系統,可自動定位測試高度,并能保證測試點和光斑重合;
5、視頻攝像頭,配備高精度視頻攝像頭,樣品放入樣品腔,可以實時觀測樣品,同時鼠標可控制移動平臺,保證鼠標點擊的位置就是被測點;
6、高分辨率探測器,運用*的SI-Pin探測器,能量分辨率遠好于比例接收器,適合測量多層鍍層及干擾比較大的鍍層成分,使測量結果更加準確;
7、良好的射線屏蔽作用,保證X射線,只有在鉛玻璃保證罩完關閉時,X射線才會開啟,保護操作人員不會受到輻射的危險。
8、簡單易操作的X射線鍍層測厚儀軟件套,每款X射線儀器都需要配置功能強大的軟件,由天瑞儀器自主創新設計的鍍層測試軟件,易操作便于應用,自動化程度高,真正可以做到鍵操作。
鍍層測試譜圖
鍍層測厚儀Thick 800A技術參數:
1、鍍層分析元素:從硫(S)~鈾(U);
2、多可以分析五層金屬鍍層厚度(4種鍍層+底層基材),次可同時分析多達24個元素;
3、分析鍍層厚度從0.01~50um(金屬鍍層不同,分析厚度會有差別);
4、移動樣品平臺100mm×100mm;
5、儀器尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm;
6、重量:90KG
7、電源:交流220V±5V,配置1000W交流穩壓電源。
鍍層測厚儀Thick 800A標準配置:
1、鍍層測試主機臺
2、系統軟件光盤片
3、校正標準塊片
4、電腦臺(品牌聯想)
5、噴墨打印機臺(品牌佳能)
6、數據線及電源線若干。
鍍層測厚儀Thick 800A應用領域:
1、PCB板行業,鍍金鍍鎳鍍銅、鍍錫鍍銅等鍍層厚度測量;
2、裝飾性鍍層鍍鉻、鍍銅、鍍鎳等鍍層厚度測量;
3、緊固件螺絲及螺母防腐鍍層測量,如鐵鍍鋅、鐵鍍鎳鍍鋅等鍍層厚度測量;
4、電子行業接插件和觸點的測量;
5、電子元器件,二極管、圓晶鍍層測量,如銅鍍錫、鍍銀,圓晶鍍銀、鍍硅的厚度測量;
6、專業電鍍和表面處理企業的電鍍鍍層測量
是的鍍層測厚儀生產企業, 產品打破了外壟斷局面,性價比,在行業內銷量*,分析儀器上市公司。公司專業生產鍍層測厚儀,氣相色譜質譜儀(GCMS),五金鍍層測厚儀,x射線測厚儀,ROHS檢測儀,手持式ROHS光譜儀,手持式,ROHS檢測設備,電鍍層測厚儀,五金鍍層測量儀,天瑞ROHS儀,X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年,以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步,目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務,是內上市的分析儀器企業。
鍍層測厚儀展廳