全功能A掃描、B掃描和C掃描 以OmniScan UT的功能為基礎建立的OmniScan® PA可提供全功能A掃描、B掃描和C掃描顯示。 全功能扇形掃查 實時體積校正顯示 高于20 Hz的刷新率(可高達40 Hz) 高級實時數據處理 采集數據時,實時數據插值改進了缺陷的空間顯示。 用戶可選的高、低通濾波器提高了A掃描和成像的質量。 操作者使用投影功能,可以同時看到垂直顯示的A掃描和扇形掃描圖像。 校準過程和參數 使用"下一步"和"返回"按鈕,可以根據向導菜單的指導逐步進行操作。 組向導和聚焦法則向導 使用組向導,用戶可輸入所有探頭、零件和聲束的參數,并一步生成所有聚焦法則,而非每改變一個參數便計算一次聚焦法則。 逐步向導可防止用戶遺漏對某一參數的修改。 在線幫助提供參數設置的一般信息。 多組選項 現在可以用兩種配置管理一個以上的探頭:不同的夾角、不同的掃查方式、不同的檢測區域以及其它一些參數。 多組檢測可采用的配置 A 使用一個單獨的64個或更多晶片的相控陣探頭,創建2個不同的組: 45º線性掃查,通過底面反射來覆蓋零件的上部 60º線性掃查,覆蓋零件的下部 B 使用一個單獨的64晶片或128晶片的相控陣探頭,創建2個不同的組: 低增益下的0º線性掃查 高增益下的0º線性掃查 C 使用一個單獨的64晶片或128晶片的相控陣探頭,創建3個不同的組: 45º線性掃查,通過底面反射來覆蓋零件的上部 60º線性掃查,覆蓋零件的下部 從35º到70º的扇形掃查,可增加檢出率 D 使用兩個16晶片或64晶片的相控陣探頭,創建2個不同的組: 從35º到70º的扇形掃查,以通過底面反射從工件的左側進行檢測 從35º到70º的扇形掃查,以通過底面反射從工件的右側進行檢測 |