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深圳市金東霖科技有限公司
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菲希爾XULM膜厚儀,該款儀器特別為頗具挑戰性的RoHS/ WEEE分析而研發。而且，它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復性可達0,5 ‰。
菲希爾XUL（M）膜厚儀測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。 使用安全簡便，堅固耐用節省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.：王生： ： 地址：寶安中心區宏發中心大廈
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