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美國Microsemi, lnc.公司(美國訊騰)的5120A相位噪聲阿倫方差測試儀可同時測量相位噪聲及阿倫方差，也可以測量相位差和頻率差，同時也可作為高精度頻率計使用。
免除了載波抑制的需要，使很小的頻差下測量相位噪聲成為可能。依賴于同一技術，阿倫方差的測量時間可以延長至300天。廣泛運用于計量測試，高精度振蕩器的生產和使用、微波設備的檢測，信號分析等領域。 另有TSC 5115A(只測相噪)，TSC 5125A（0-400MHz輸入范圍）可選。
| 準確測量：分辨率達到100飛秒，即1E-13秒
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頻率范圍 | 1-30 MHz | 測量準確度 | ± 1.0 dB |
相 位 噪 聲 特 性 | |||
艾倫方差 | ≤3E-15@1s | 頻率偏置范圍 | 0.1 mHz to 1MHz |
偏 置 | L(f) 相噪 | ||
1Hz | -145 dBc/Hz | ||
10Hz | -155 dBc/Hz | ||
100Hz | -165 dBc/Hz | ||
≥10KHz | -175 dBc/Hz | ||
系統噪聲本底（10MHz輸入，帶5120A-001內部參考） | |||
偏 置 | L(f) 相噪 | ||
1Hz | -120 dBc/Hz | ||
≥10KHz | -168 dBc/Hz | ||
5120A Block Diagram
美國Microsemi, lnc.公司(美國訊騰)的5120A相位噪聲阿倫方差測試儀可同時測量相位噪聲及阿倫方差，也可以測量相位差和頻率差，同時也可作為高精度頻率計使用。
