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北京冠遠科技有限公司
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| 波長范圍 | 5.66nm | 光源 | 9.6 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 焦距 | 8.3mm |
| 適用范圍 | 途薄膜測試 | 外形尺寸 | 420*380*550mm |
| 重量 | 25KGg |
日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV為您提供所需的分辨率，一維高速探測器、6位樣品自動轉換器、旋轉樣品臺、氣密樣品臺等，實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，
日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV為您提供所需的分辨率，一維高速探測器、6位樣品自動轉換器、旋轉樣品臺、氣密樣品臺等，實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，得到高精度測試數據，可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進行高質量數據測試。
在X射線開啟狀態下無法打開樣品室操作窗。在測試中如果指令樣品室解鎖，則快門關閉同時停止X射線，應用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業原材料品質管理、大學、科研等等，入射和發散狹縫可選。
技術參數
1、多用途薄膜測試組件；
2、X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC；
3、分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等；
4、X射線發生器功率為3KW；
5、測角儀為水平測角儀；
6、測角儀小步進為1/10000度；
7、In-Plane測試組件；
8、高速探測器D/teX-Ultra；
9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）；
10、小角散射測試組件；
11、微區測試組件；
12、測角儀配程序式可變狹縫；
13、高反射效率的石墨單色器；
14、測角儀半徑:185mm,285mm(選購),280mm(TTR)；
15、X射線防護罩:帶故障保險機構的開閉式防護罩；
16、X射線發生器:3kW。
主要特點：
1、高速X-射線檢測器，檢測器的速度和強度大幅提高；
2、全新的軟件設計理念，豐富的內容, 簡明流暢；
3、光路系統自動調整校準：配備X-射線光路自動調整校準模式；
4、豐富的功能附件保障了儀器升級的可能；
5、水平測角儀：特別適合粉末類樣品，尤其是易于產生取向效應的樣品；
6、全自動狹縫調整裝置；
7、*的光學系統，可實現交叉光路和平行光路的自動程序互換。
日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯鎖裝置，X射線衍射儀器的旗艦產品，聚焦法光學系統和平行光束法光學系統可 輕松切換，不需要重新設置,水平測角儀,操作方便,可自由 組合各種附件,適合多種樣品的各種測試，可以進行材料的物相鑒定及定量分析以及研究材料原子尺度結構*、起決定性作用的設備，應力、織構、取向度和結晶度的測定；薄膜物相及物性分析等。
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