IGBT動態參數開關短路反向恢復測試
半導體器件動態參數測試系統
IGBT是廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的開關性能具有極其重要的實際意義。
天光測控IGBT動態參數開關短路反向恢復測試，該系統是針對IGBT器件的開關性特性及IGBT內部續流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統，適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。
規 格：1800×800×800（mm）
質 量：155Kg
環境溫度：15～40℃
相對濕度：小于80%
大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa
電網電壓：AC220V±10%無嚴重諧波
電網頻率：50Hz±1Hz
供貨期：一個月。
保修期：保修一年，終身維護。
供方收到用戶維修請求后在12小時內給予回復，需要到現場排除故障時二個工作日內派技術人員趕到用戶現場進行維修。
設備交付后免費培訓相關人員直至使用熟練為止。
系統操作界面采用中文或以用戶要求為準。
軟件*升級，對需方器件測試程序提供*支持 。
公司簡介：
西安天光測控技術有限公司 是一家從事 半導體功率器件測試設備 研發、生產、銷售的高科技技術企業。
經營產品包括：晶體管圖示儀；
半導體分立器件測試篩選系統；
Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs的電參數及可靠性和老化測試；
靜態測試（包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs 等）；
動態測試（包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；
環境老化測試（包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge 等）;
熱特性測試（包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve 等）各類全系列測試設備。
一直以來被廣泛應用于半導體器件上游產業（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈）。
公司團隊匯集了來自國內院校及電力電子行業的專家教授，擁有眾多的革命性創新技術。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現場支持，可覆蓋功率器件的初始研發到規模化生產的整個領域。
展望未來，公司將全力發揮自身技術優勢，為客戶提供更優質的專家級技術服務以及更多的經典產品。
