詳細介紹
XBS 分子束外延沉積速率監測/控制系統(MBE Deposition Rate Monitoring/Control System),適于精確的MBE分析,其他氣體分析和科學實驗使用。
XBS 分子束外延沉積速率監測/控制系統的高靈敏度和數據的快速采集,能夠提供生長速度低至0.01 ?/s的質譜信號。
·交叉離子源,束接收角同軸的橫斷面呈±35°
·離子源控制,用于軟離子化和表觀電勢質譜
·2mm束接受孔,以利特殊使用者操作
·一級過濾處增加射頻,抗污染物能力增強
·內置UHV兼容的水冷卻罩
·通過RS232、USB或Ethernet連接計算機,MASsoft軟件控制
·質量數范圍: 1~300 amu(標準配置)
500amu(選配)
·掃描速度: 100amu/s
·最小掃描步階: 0.01amu
·檢測濃度: 5ppb~99%
·穩定性: 24h以上,峰高變化小于±0.5%
·監測極限: 30 ions/s
·監測生長速率: 1? / min,或更低
XBS Monitor for the Molecular Beam Epitaxy Process (390 KB)
Mass Spectrometers for Thin Films, Plasma and Surface Engineering (1.1 MB)