中國臺灣UPRtek群耀MD100N手持式輝度計亮度計色彩亮度檢測專家，實現新型顯示器追求高對比度與色彩的優異表現。優異的光學分光技術及電子信號處理技術能取代Colormeter量測準度不足之問題。另外，MD100N分光式輝度計提供全面計算機分析軟件（uSpectrum/uFlicker），用戶可客制量測列表及進行大數據量測的分析，簡化工作流程及加速作業時間

詳細介紹

中國臺灣UPRtek群耀MD100N手持式輝度計亮度計

MD100N 顯示器光學測量及檢驗方案

桌上型MD100N色彩亮度檢測專家，實現新型顯示器追求高對比度與色彩的優異表現。優異的光學分光技術及電子信號處理技術能取代Colormeter量測準度不足之問題。另外，MD100N分光式輝度計提供全面計算機分析軟件（uSpectrum/uFlicker），用戶可客制量測列表及進行大數據量測的分析，簡化工作流程及加速作業時間。

桌上型輝度計-MD100N可以準確、簡易測量顯示面板光源亮度及色度值。關鍵參數包含亮度，CIE xy，Yxy，u’/ v’，GAMMA校正，白平衡調整等。整體量測速度快，精度高，能滿足智能手機、電視機、微型顯示器、AR / VR(擴增實境/虛擬現實)裝置、智能穿戴裝置等新型設備對各種光源測量需求，如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。

UPRtek憑借豐富分光技術，運用于顯示設備色彩檢驗能力，提供業界色彩亮度檢測方案，MD100N 輝度計因應需求而誕生。

市售LCD (LED背光源)& OLED顯示屏有什么問題?

透過下圖，我們明顯察覺每片顯示屏背光的發光輻射曲線不同。原因為，每片顯示屏都有各自不同的面板特性，即使制造商生產出同一批顯示屏，在其峰值處仍有5?10nm的偏移現象，是人眼不見得所能察覺到的差異，亦即所謂面板特性。

面板特性差異導致色度誤差?

Ans:是的

從實測可知，每當波長誤差值為1nm偏移，色度誤差可能達到0.0025。您能想象，當面板特性導致波長偏移量到5-10nm時，顏色差異會多嚴重? 所以，您需要量測能力優異的儀器- MD100N桌上型顯示器解決方案替您把關。

?儀器能力差異造成什么問題?

傳統的色彩分析儀光學設計多為RGB顏色分離濾鏡，其特性可以模擬紅綠藍三色并估算出顏色，其數值與人眼光譜敏感度驅近。但，缺點有二:

1) 反射率或穿透率未列入計算，也沒有標準觀察者和視角，只憑RGB三點計算?數值不客觀。

2) RGB顏色分離濾鏡制程無法控管→每片濾鏡與CIE1931配色函數無法匹配。

以下表為例，可發現其誤差值為±2％時→色度誤差值大，約0.0066左右。

?從下圖您可以發現什么?

由上述面板特性造成先天顯示器之間的先天差異, 加上儀器能力及量測誤差造成的后天因素, 我們從下圖得到了一個非偶然發生的結果。

某些市場既存的測量設備, 因量測能力較不理想，無法有效控管及把關有質量疑慮的顯示器相關產品, 進而終造成市場不良及市場客訴。

現在，你知道選對工具的重要性了嗎?新型顯示器檢測技術專家-MD100N輝度計將會是您好幫手！

特點如下:

?近乎色度測量精度表現

采用高階分光技術及擬合計算功能，確保x(λ)/y(λ)/z(λ)光譜感度比擬CIE1931配色函數表現。輕松提升色度精度，提供更貼近人眼視覺函數的量測結果。

?MD100N為顯示器提升顯示技術及顯示質量的好幫手

以*分光技術提供客戶更佳的色度精度表現及色度重現性，并支持顯示器產品在高亮度至低亮度范圍內的GAMMA檢測及調整工作。只為協助客戶成就，新型顯示器所能賦予真實的視覺感受。

?滿足多樣應用的探頭選擇

提供不同收光尺寸的探頭供用戶選擇，可有效滿足手機OLED屏幕、AR/VR裝置顯示器、穿戴式裝置等新型應用產品的測量需求。

可選尺寸 : Φ 10mm / Φ 5mmΦ 4mm / Φ 3mm

?主要測量參數:

亮度(cd/m-2 ) : 測量范圍 0.001 ~ 5,000 cd/m-2

亮度精度 : +/- 3% @ 0.2~100 cd/m-2

色度(x/y) : 精度 +/- 0.003 @ 0.2 ~ 100 cd/m-2

Flicker : JEITA / VESA / CONTRAST (Max/Min),RMS, Time Domain, FFT

光譜 : 完整可見光譜數據/光譜圖

?其他配置:

(1) 接口:USD/RS232

(2) 穩健耐久的金屬外?

(3) 多元免費軟件選擇:

a.光譜分析軟件(uSpectrum)

b. Flicker分析軟件(uFlicker)

c. SDK開發包

中國臺灣UPRtek群耀MD100N手持式輝度計亮度計 技術規格：

光譜
傳感器	CMOS 線性傳感器
光譜波長范圍	380 to 780 nm
波長資料間隔	1 nm
光譜波寬	約12 nm （半波寬）
量測區域	Ø10 mm
受光角度	±1°
波長再現性	± 1 nm
量測范圍	0.001 to 5000 cd/m2
亮度12	測量范圍	0.05~5000 cd/m2
	精度	±2% 100 to 5000 cd/m2 ±3% 0.2 to 100 cd/m2 ±4% 0.05 to 0.2 cd/m2
	重復性 (2σ) *3	0.2% 100 to 5000 cd/m2 0.5% 0.2 to 100 cd/m2 0.8% 0.05 to 0.2 cd/m2
色度12	測量范圍	0.05~5000 cd/m2
	精度	±0.002 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 ±0.003 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 ±0.005 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2
	重復性 (2σ) *3		0.0005 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2 0.001 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2 0.002 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2
雜散光	-25 dB max *4
偏極化誤差	<2%
積分時間	100us to 5000 ms （快速模式/一般模式）
數位分辨率	16 bits
頻閃
測量范圍	5 to 5000cd/m2
取樣速度	100k sample/sec (adjustable)
對比度	精度		±1%（30Hz AC/DC 10% 正弦波）
			±2%（60Hz AC/DC 10% 正弦波）
	重復性		1%（20 to 65 Hz AC/DC 10% 正弦波）
JEITA	精度		±0.5dB（30Hz AC/DC 10% 正弦波）
	重復性		0.3dB（30 Hz AC/DC 10% 正弦波）
特點
量測功能	單次 / 連續
操作模式	RS232 模式 / USB 模式（PC 連接）
積分時間	自動 / 手動
暗校正	自動
光譜量測項目	1. 亮度（cd/m2）
	2. 相關色溫（CCT）
	3. C.I.E 色度坐標圖 (1) CIE 1931 2-degree, 10-degree x,y Coordinates (2) CIE 1976 2-degree, 10-degree u',v' Coordinates (3) CIE 1931 XYZ Value
	4. △x , △y , △u' , △v'
	5. Delta uv（Duv）
	6. 主波長（λd）
	7. 色純度（Excitation Purity）
	8. 演色指數（CRI, Ra）/ R1 to R15
	9. 光譜功率分布（SPD）mW/m2
	10. 峰值波長（λp）
	11. 峰值強度（λpV）
	12. 積分時間（I-Time）
	13. 暗明視覺比（S/P）
頻閃量測項目	1. Max / Min, Average, RMS and Frequency
	2. JEITA
	3. VESA
	4. 頻閃百分比（Percent Flicker）
	5. 頻閃指數（Flicker Index）
系統配置
電源	變壓器5V, 1.0A
接口	RS232 ; USB 2.0
尺寸	204 x 90 x 45 mm （長x 寬x 高）
重量	630 g ± 10 g
操作溫度/ 濕度	0 to 35 ℃，相對濕度70％或以下，無冷凝
儲存溫度/ 濕度	-10 to 40 ℃，相對濕度70％或以下，無冷凝
軟件	SDK Solution ( Windows platform ), uSPECTRUM, uFLICKER
1：在標準光源下(2856K、6500K & 9300K)進行亮度及色度測試。 2：在溫度23±2℃，相對濕度50%以下進行亮度及色度測試。 3：在快門長開的狀態下，進行重復性測試。 4：使用550nm單頻光輸入與量測550nm±40nm位置的量測比例值。