X熒光光譜儀

產品特點:

l集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析于一體的測試軟件

l電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等鍍層

l*的MLSQ-FP分析軟件可以內置無限多標樣數據，*的提高了測試精度和測試范圍

l采用多道脈沖分析器

l一次可同時分析樣品中25個金屬的含量極成分

l軟件支持無標樣分析，無標樣條件下誤差小于1%，可任意進行定性定量分析，使用靈活

l直觀的分析譜圖,元素分布一目了然

l物理測量，不改變樣品性質分析樣品不被破壞，被測樣品可以是固體、粉末、液體等

l具有多種光譜擬合分析處理技術

  1）Smooth(波峰光滑處理)

  2）Pickup Removal(拾取峰去除)

  3）Escape peak(逃逸峰處理)

  4) Background Removed(背景去處)

  5) Blank Subtraction(空白峰位去除)

  6) Compton Peak(康普頓波峰處理)

  7) Deconvolute(去卷積積分處理)

X熒光光譜儀EDX-1200 銅合金分析儀技術指標

l測量元素范圍：11（Na）~ 92 (U)

l膜厚分析精度：0.05um

l元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

l多次測量重復性誤差小于0.1%

l*工作穩定性誤差小于0.1%

l檢測時間：100-120秒

l樣品腔尺寸：190×190×54mm

l工作環境溫度：15-30℃

l工作環境濕度：≤65%

l工作電壓：AC220V（建議使用者配UPS穩壓電源）

標準配置

光譜儀主機 計算機 準直器 載物片 操作手冊

X熒光光譜儀應用領域

RoHS、金屬膜厚度、工業鍍層厚度測量、冶煉、玩具、無鹵化分析、電子電器、土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等