納米粒徑分析儀

Nicomp 380 N3000系列納米粒徑分析儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。

技術優勢

1、APD（LDC）超高靈敏度檢測器；

2、多角度檢測（multi angle）模塊；

3、可搭配不同功率光源；

4、精確度高，接近樣品真實值；

5、快速檢測，可以追溯歷史數據；

6、結果數據以多種形式和格式呈現；

7、符合USP,CP等個多藥典要求；

8、無需校準；

9、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊；

（2）搭配多角度檢測器；

（3）自動進樣系統（選配）；

Nicomp多峰分布

      納米粒徑分析儀基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點，Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。