正置金相顯微鏡

M-30MR正置金相顯微鏡能提供*的圖像質量和穩固可靠的機械結構；
操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域；
光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辨率更高，觀察更舒適；
目鏡及物鏡：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10x/22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺，無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡，無蓋玻片設計；
觀察筒：鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒，視度可調節，30°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分析；
調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，粗調行程28mm，微調精度0.002mm，帶有平臺位置上下調節機構，樣品高度可達50mm（反射），帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置；
照明系統：反射照明器帶斜照明裝置，可以再觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果，自適應90V-240V寬電壓，單顆3WLED高亮度冷光源。

技術參數：
產品名稱
及型號 M-30MR正置金相顯微鏡 
部件配置
XY-NPI5 內位5孔轉換器 1只
XYMF 反射式機架，低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程28mm，帶平臺位置上下調節機構。大樣品高度50mm，微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。 1套
XYMRL 反（落）射照明器，柯拉照明系統，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。帶斜照明裝置。 1套
XYMLED 100-240V寬電壓,單顆大功率5W LED,暖色 1只
XYMSGM 雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節；
平臺面積175mm×145mm，移動范圍：76mm×42mm。 1套
XYM-MSP 反射用金屬載物臺板 1塊
MXPS φ30起偏鏡插板（反射用） 1只
MXPWSR 360度旋轉式檢偏鏡插板 1只
XYCTV0.5 1/2CTV(0.5X),C接口,可調焦 1只
倍率 50X、100X、200X、500X、可調（標準配置10X目鏡）
光源 反射照明系統（LED燈），亮度可調