CWM400LT工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念,可以方便升級系統,實現偏光觀察、暗場觀察等功能,導柱升降裝置,可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動,機構升降平穩。產品適用于精密零件,集成電路,包裝材料等產品檢測。
技術規格
目鏡:大視野 WF10X(視場數Φ22mm)
物鏡:無限遠平場消色差物鏡
PL L5X/0.12 工作距離:26.1 mm
PL L10X/0.25 工作距離:20.2 mm
PL L20X/0.40 工作距離:8.80 mm
PL L50X/0.70 工作距離:3.68 mm
目鏡筒:三目鏡30˚傾斜, 可100%通光攝影。
落射照明系統:內置視場光欄、孔徑光欄、
(黃、藍、綠、磨砂玻璃)濾色片、轉換裝置,
推拉式檢偏器與起偏器
調焦機構:
粗微動同軸調焦,帶粗動手輪松緊度調整裝置,微動格值:1μm。
照明:12V30W鹵素燈,亮度可調
轉換器:五孔(內向式滾珠內定位)
底座外形尺寸:300mmX240mm
工作臺:機械式載物臺外形尺寸:185mmX140mm,移動范圍:橫向35mm,縱向:30mm