儀器用途
LW200-4JT適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體,金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
采用進口光學鏡片,的100X干鏡可媲美國外同類產品,為國內市場配置的產品.
主要技術參數:
1.三目鏡筒: 傾斜45 °可旋轉360 °
瞳距55mm-75mm,視度±5°
瞳距55mm-75mm,視度±5°
輔助倍數1.25X
2.高眼點目鏡:PLAN10X/20mm
3.平場物鏡: 4X、10X、40X(S)、100X(S,oil)
4.總放大倍數:50X-1250X
5.雙層載物臺:尺寸160mm*140mm,
移動范圍 75*50mm
6.聚焦鏡:可調式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡可變光欄和視場光闌 濾色片座
孔鏡可變光欄和視場光闌 濾色片座
7.調 焦 :同軸粗微動調焦 升降范圍25mm
微動格值0.002mm
微動格值0.002mm
8. 光 源:柯勒照明,正交偏振裝置,濾色片(綠、黃、磨砂),反射光可調鹵素燈12V50W,
透射光可調鹵素燈12V20W
選購件:
1、目鏡 WF16X/11mm、WF20X/9mm,10可調帶尺目鏡
2、物鏡:PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、 PLL100X(干鏡)
3、攝像系統:數字彩色攝像頭,數碼相機
4、金相分析軟件,測量軟件等
2、物鏡:PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、 PLL100X(干鏡)
3、攝像系統:數字彩色攝像頭,數碼相機
4、金相分析軟件,測量軟件等