詳細介紹
XTU-50A X熒光光譜儀精密微型滑軌:精密的手動移動平臺,快速準定位所需檢測的樣品。
EFP*算法軟件:可檢測單鍍層,多鍍層,多元合金,甚至對于同種元素在不同層的厚度檢測也能分析,包括輕金屬鍍層,非金屬鍍層,達克羅,Nip鍍層測試,包括Ni與P的比例也均可檢測。
準直器和濾光片:多種準直器和濾光片電動切換,滿足各種測試方式的應用。
新一代高壓電源和X光管:性能穩定可靠,高達50W的功率實現更高的測試效率。
高效的散熱系統:對流通風過濾式風冷,儀器即便全天候開啟,都可保持恒溫恒效。
XTU-50A X熒光光譜儀技術參數:
接收器:日本東芝正比計數管,窗口面積≥150mm²
射線準直系統:垂直光路交換裝置搭配黃金準直器
視頻觀測光路系統:垂直光路交換裝置搭載100mm變焦鏡頭
測樣讀取開啟方式:恒壓恒流快門式光閘
濾光片:鋁、空、鎳
準直器:ø0.2mm;ø0.5mm;兩準直器任選一種
近測距光斑擴散度:10%
小測量面積:約0.04mm²
測量距離:具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異形樣品,變焦距離0-30mm
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,全局快門,有效像素:1280*960,變焦功能
測量面積:小0.04mm²
- 鍍層分析:23層鍍層24種元素
- 儀器特點:可手動變焦
- 儀器優勢:同元素不同層分析