用途:
LW200-4JT適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
主要技術參數：
1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉360 ° 瞳距55mm-75mm，視度±5° 輔助倍數1.25X
2．高眼點目鏡：PLAN10X/20mm
3．平場物鏡: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)
4．總放大倍數：50X-1250X
5．雙層載物臺：尺寸160mm*140mm，
移動范圍 75*50mm
6．聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡可變光欄和視場光闌 濾色片座
7．調 焦 ：同軸粗微動調焦 升降范圍25mm
微動格值0.002mm
8. 光 源：柯勒照明，正交偏振裝置，濾色片（綠、黃、磨砂），反射光可調鹵素燈12V50W，
透射光可調鹵素燈12V20W
環保在線