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納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView 納米粒度儀

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更新時間：2022-11-01 09:14:11瀏覽次數：1089次

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產品簡介

納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。

詳細介紹

儀器簡介：

納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。

納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點 - 全自動和無源穩定性

自動校準程序會持續工作，即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

自動掃描，多可達100個子體積；
自動聚焦；
小巧，便于攜帶；
防震動；
光源從紫外線到紅光；
插入式樣品池；

理論

平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。