JIMA RT RC-04分辨率測試卡特點:測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
圖案布局:T型
線/空間尺寸:32種規格圖案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
每個測試圖案由 8 條線組成,T 形布局
吸收材料:鎢,厚度>=650nm
保護膜:PET膜25μm(含粘合劑)
硅基:15 µm +/- 1 µm(厚度)
外殼尺寸:40 x 30 x 5 毫米(寬 x 高 x 深)
芯片尺寸:5 x 5 x 0.06mm(寬 x 高 x 深)
精度模式: 公差: +/- 10%
適用范圍工作溫度:10°C至70°C
JIMA RT RC-04分辨率測試卡用途:
在 X 射線系統的分辨率測試。選擇檢測器、樣品和試管之間的距離,以便獲得盡可能高的放大倍數。現在選擇所需的 X 射線參數。將測試圖案放置在試管前面,以便一束線條中的每條線條清晰可見。使用機械手進行溶出度測試,使下一個最小的線束變得可見。只要線條清晰,就繼續。以下近似適用:焦點尺寸等于分辨率乘以 2。
JIMA RT RC-04分辨率測試的布局+封裝