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上海拓精工業測定儀器有限公司
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X射線熒光測厚儀
X-ray測厚儀原理是根據X-ray穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X-ray XUL：
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X-ray XULM：
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X-ray XAN 220/222:
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X-ray XAN 250/252：
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X-ray XDLM:
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X-ray XDAL:
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X-ray XDV SDD:
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X-ray XDV-µ:
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X-ray XUV 733：
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X-ray 4000：
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X-ray 5000：
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X-ray XDL:
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