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ImageMaster HR緊湊型光學傳遞函數測量儀

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更新時間：2024-02-07 08:54:48瀏覽次數：139次

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產品簡介

ImageMaster HR光學傳函儀作為高分辨率光學傳遞函數測量儀，可以測量幾乎所有類型光學系統的光學參數，無論從高性能的相機鏡頭還是到瞄準裝置都可以使用本系列產品高精度光學傳函儀ImageMaster HR進行精確的測量。

詳細介紹

ImageMaster HR緊湊型高精度光學傳遞函數測量儀，立式結構，多功能

本文介紹了型號ImageMaster HR的光學傳遞函數測量儀的技術參數和應用范圍以及產品特點，ImageMaster HR屬于全歐光學TRIOPTICS光學傳遞函數測量儀的產品，整體為立式的結構。該儀器裝配齊全，適用于量產，研發高精度的小口徑透鏡或鏡頭。

高精度光學傳函儀ImageMaster HR VIS的技術規格

產品型號	ImageMaster HR VIS
系統配置	無限共軛系統（有限可選）
離軸角度	±105°
光譜范圍	VIS：450 nm-700 nm 鹵素（近紅外/近紫外可選）
樣品焦距范圍	5 mm-2000 mm（可擴展）
通光口徑	45 mm
測量方位角	360°
圖像高度	±46 mm
空間頻率	VIS: 500 lp/mm 1000 lp/mm（取決于樣品）
MTF測量精度	2% 軸上和軸外
MTF測量重復性	0.5
EFL測量精度	0.5 – 3mm ±5um 3 – 10mm ±0.2%
畸變測量精度	±0.7 % 無編碼器 ±0.25 % 帶編碼器
畸變測量重復性	±0.3 % 無編碼器 ±0.1 % 帶編碼器
橫向色差測量精度	±0.5 um
橫向色差測量重復性	±0.3 um
縱向色差測量精度	±1 um
縱向色差測量重復性	±0.2 um
CRA測量精度	±1°
CRA測量重復性	±0.4°
FFL（相對值）測量精度	±2 um
FFL（相對值）測量重復性	±1 um
散光測量精度	±4 um
散光測量重復性	±1 um
場曲率測量精度	±2 um
場曲率測量重復性	±1 um

ImageMaster HR IR光學傳函儀的技術規格

產品型號	ImageMaster HR IR
系統配置	無限共軛系統
光譜范圍	VIS：400 nm-900 nm MWIR：3-5 um LWIR：8-12 um
樣品焦距范圍	10 mm-150 mm
通光口徑	60 mm
測量方位角	360°
空間頻率	0-50 lp/mm
MTF測量精度	±0.03 MTF（軸上和軸外）
MTF測量重復性	±0.02 MTF（軸上和軸外）

德國全歐光學(TRIOPTICS)設計、生產的ImageMaster HR光學傳遞函數測量儀是ImageMaster光學傳遞函數測量儀系列中的產品，作為高分辨率光學傳遞函數測量儀，采用立式結構設計，是一個裝配齊全的適用于小口徑透鏡或鏡頭的小批量、高精度的研發和量產的測試站。

其模塊化和可升級的設計使測量的圖像質量(MTF) 和廣泛的其他光學參數。該儀器適用于研發實驗室，也可用于質量測試或生產中。高精度光學傳函儀ImageMaster HR的垂直設置節省了空間，并確保了樣品鏡頭卡口的和最準確的定位。對于大多數鏡頭來說，這種利用沿光軸的重力進行垂直測量的方法是有利且易于操作的。

ImageMaster HR光學傳函儀測量儀提供了較好的圖像質量和較高信噪比的高分辨率光學傳遞函數測量儀。全歐光學作為的光學檢測設備制造廠商，始終保證光學傳函儀的測量結果符合國際標準的可追溯性。